Advanced Characterization of
Morfology and EBSD

Equipment  : Multi Detector of Foccused Ion Beam (FIB)

Brand         : JEOL JIB 4610F

Function     : The JIB-4610F system incorporates an easy-to-use, out-lens type scanning electron microscope (SEM) equipped with a Schottky electron gun and a new FIB column capable of large milling currents (90 nA) into a single chamber.

After high-speed processing of the cross-section using FIB, it is possible to perform high-speed analysis using any of the various analysis units like CLD (cathodoluminescence), EBSD (crystal orientation analysis system) and EDS (energy dispersive X-ray spectrometry), making use of the high-resolution SEM imaging and the Schottky electron gun capable of providing large currents (200 nA).

The standard configuration includes a 3D analysis function, where milling of cross sections is performed automatically at fixed intervals, with SEM images acquired for each cross section (Cut&See). By also utilizing the optional 3D reconstruction software, it is possible to make even more detailed analyses of the 3 dimensional structures of a complex sample.

No. WA Layanan: +62 811-9811-562
E-mail layanan uji: labkarserpong@brin.go.id

Catatan:
- Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” --> “Berkas SOP Layanan” dan kemudian form F-10 yang telah diisi (format .pdf) diunggah/diupload bersama foto sampel di bagian “File Dukung Lainnya” dan “File Data Foto”. Pastikan bahwa nama dan jumlah sampel yang terdaftar di ELSA System sama dengan jumlah sampel yang tertulis pada Form F-10.
- Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Verifikator.
- Pengembalian dana tidak dapat dilakukan kecuali terdapat kendala teknis dilaboratorium
- Batas waktu pengambilan sampel maksimal 1 (satu) bulan setelah selesai Pengujian

• Photo
• Other Supporting File